L+C测试卡 LTE双模白卡 4G双模卡 适用LTE+CDMA网络测试

加工定制	是	**	华海智能卡	规格	25*15*0.80（可定制）（mm）

数据保存	10（年）	封装材料	PVC	存储容量	0-1024K（bits）

工作温度	-35-70（℃）	擦写寿命	3万（次）	应用范围	通讯测试

类型	智能卡	读写方法	接触型IC卡	应用领域	SIM卡

日产量	二十万	原产地	深圳石岩	

一、产品介绍

  LTE双模测试卡、4G双模测试卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡(又称白卡)，使用于通讯工业生产的信号测试（LTE（Long Term Evolution，长期演进)是由3GPP组织**的UMTS技术标准的长期演进，于2004年12月3GPP多伦多TSG RAN#26会议上正式立项并启动。LTE系统引入了OFDM和多天线MIMO等关键传输技术，显着增加了频谱效率和数据传输速率（峰值速率能够达到上行50Mbit/s,下行100Mbit/s），并支持多种带宽分配：1.4MHz,3MHz,5MHz,10MHz,15MHz和20MHz等，频谱分配更加灵活，系统容量和覆盖显着提升。LTE无线网络架构更加扁平化，减小了系统时延，降低了建网成本和维护成本。LTE系统支持与其他3GPP系统互操作。FDD-LTE已成为当前世界上采用的地区及地区较广泛的，终端种类较丰富的一种4G标准。）。常用于LTE手机、4G手机、FDD手机、GSM手机、UIM手机、RUIM手机、CDMA2000手机、USIM手机，配合综合测试仪以及自己搭建的网络对手机进行无干扰综合测试；手机在生产中需要对成品进行相关信号测试，却要进行大规模屏敝，需动用更多的人力物力及测试时间，使生产工艺繁杂及成本增加，测试卡可以实现信号至仪器到手机的一路径，让测试环境更加简洁，很好的解决了这一繁锁问题。测试卡可进行偶合测试，误码率测试、具有齐备的VCC和RSTB，可用于终端和综测仪测试等。

二．产品适用的测试仪器的**：
  适用安捷伦、安立、罗德、施瓦茨、星河亮点、AGILENT8960、ROHDE & SCHWARZ、SUNLIGHT、CMU200、CMW500、CMU55、E5515C、E828**、MT8820A、NOISEKEN、FLUKE、TEKTRONIC、ADVANTES等国外、国内的各种测试仪器以及各手机厂或者营运商自建的网络等。
三：产品品质**：
我们公司的LTE双模测试卡、4G双模卡、LTE-FDD卡、LTE-TDD卡、测试卡、GSM测试卡、CDMA测试卡、UIM测试卡、RUIM测试卡、WCDMA手机测试、TD-SCDMA测试卡、CDMA2000测试卡、手机测试卡采用国际着名半导体厂商生产的**芯片，3V/5V兼容5-6触点兼容设计，适合一切手机.、配以**COS系统，全面遵从4G手机、3G对手机、2G手机等，我司的测试卡的各项规范特殊的半导体硅衬，**卡片可以承受10牛顿／每平方米的压力。（GSM标准为4牛顿／每平方米）适合工业化生产线使用，采用****命EEPROM，**读写次数在10万次以上。（3G标准只要求3万次，按一般生产线测量要求，每部手机的读写次数为10次，可测一万部手机。），**芯片保护层，**卡片安全，防电子攻击。耐压6.5V以上特殊卡片涂层，抗静电（ESD），**（48小时浸泡试验）特殊卡体材料（ABS混合高温PVC），耐高温，45度可正常工作4小时以上。75度温度冲击试验.
  我公司产品经地区集成电路卡注册中心授权使用进口三星、日立、飞利浦等若干芯片[授权范围：S3C89K8(KS88C92008) S3xC9xx带触点IC卡芯片系列]。所有SIM智能卡的物理特性、耐化学性、触点电特性均已通过地区电子计算机*中心及信息产业部IC卡*中心检验合格，具有*性的品质**。